otsukael電位/粒徑測量設備粒度計密度計紫外光譜儀

otsukael電位/粒徑測量設備粒度計密度計ELSZneoSE的介紹
絕對分子量、慣性半徑和第二維里系數可以使用靜態光散射法測量。
可以進行 Zimm plot、Berry plot、Zimm square root plot、單一濃度法 plot、Debye plot 等各種分析。
確定膠束的總數。
可選的棒狀樣品池支架可對光纖材料（散裝）進行絕對散射強度測量。

產品型號：ELSZneoSE
廠商性質：經銷商
更新時間：2023-04-14
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特征

可根據應用增加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變學測量、凝膠網絡結構分析、粒徑多角度測量）。
使用標準流通池連續測量粒徑和 zeta 電位
可在從稀溶液到濃溶液（高達 40%）的寬濃度范圍內測量粒徑和 zeta 電位
可以在高鹽濃度下測量板狀樣品的 zeta 電位。
可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量
溫度梯度功能可實現蛋白質的變性和相變溫度分析等。
通過對池內電滲流的實際測量和繪圖分析，提供高精度的zeta電位測量結果
可安裝熒光截止濾光片（選項）

應用

它非常適用于表面化學、無機材料、生命科學、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫藥等領域的基礎研究和應用研究，不僅涉及微粒，還涉及薄膜和板狀樣品的表面科學。藥品。

新功能材料
燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、纖維素納米纖維、功能膜、催化劑、納米金屬）、生物納米
相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡、
生物相容性材料等。
陶瓷及色材行業
陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）無機溶膠的
表面改性、分散、聚集控制
顏料（炭黑、有機顏料）分散與聚集控制漿樣濾色片浮選
礦物
捕集
木材吸附研究
半導體領域
硅片表面異物附著機理闡明磨料、添加劑與硅片表面 CMP漿料
相互作用研究
聚合物/化學工業乳液
（油漆/粘合劑）的分散/聚集控制、乳膠表面改性（醫療/工業用）、
聚合物電解質（聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等）的功能研究、功能納米紙的造紙過程
控制和紙漿，以及紙漿添加劑的研究
醫藥食品工業 　
乳液（食品、香精、醫藥、化妝品）分散/聚集控制、功能性蛋白脂質
體/囊泡分散/聚集控制、表面活性劑（膠束）功能

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