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更新時間：2025-11-26 
瀏覽次數：35在半導體晶圓、液晶面板等高的端精密制造領域，產品表面的微觀質量直接關系到最終產品的性能與良率。因此，對表面進行超精密檢測，識別出微米甚至亞微米級別的缺陷，成為生產過程中不的可的或的缺的環節。日本山田光學推出的YP-150I和YP-250I高亮度鹵素光源裝置，正是為滿足此類嚴苛的表面檢查需求而設計的專用照明設備。
YP-150I和YP-250I是主要用于顯微觀察的照明裝置。其核心應用是檢測各類高光潔度成品表面的微小缺陷，例如：
表面附著異物
細微劃痕
拋光不均勻
霧度
滑移線
這些缺陷在普通光照下難以察覺，但在特定角度和高亮度、高均勻性的光照下會顯現出來。該系列裝置通過提供高強度且穩定的照明，成為半導體加工、液晶面板制造等過程中進行質量控制的有效工具。
該系列產品具備多項旨在提升檢測精度與穩定性的技術特點。
1. 高照度與均勻照明
兩款裝置均能提供超過400,000勒克斯的樣品表面照度。如此高的照度是發現極其微小缺陷（資料提及可檢測小于0.2微米的缺陷）的基礎。同時，它們采用鹵素燈作為光源，具備較高的色溫，這使得照明光線不僅明亮，而且不均勻的情況較少，光斑穩定銳利，有助于檢測人員獲得清晰、一致的觀察效果。
2. 有效的熱管理
在提供高亮度光照的同時，鹵素燈會產生大量熱能，而過熱可能影響精密樣品或檢測設備。該系列產品通過采用冷鏡技術，將熱量對觀察過程的影響降至傳統鋁鏡反射方式的三分之一，為長時間穩定觀察創造了條件。
3. 便捷的操作設計
裝置配備了高照度觀察與低照度觀察的一鍵切換功能。這一設計方便檢測人員根據不同的檢測需求或樣品特性，快速調整照明強度，無需中斷觀察流程，提升了檢測效率。
4. 型號區分與選擇
YP-150I和YP-250I作為姊妹機型，在具體應用上有所區分。
YP-150I：其照明范圍直徑為30毫米，更適用于較小尺寸樣品的精密檢測。
YP-250I：其照明范圍直徑為60毫米，能夠覆蓋更大的面積，資料中特別提到可用于8英寸晶圓的檢測。此外，YP-250I提供了螺旋槳風機型和管道風機型兩種散熱配置，用戶可以根據實際安裝環境與應用場景進行選擇。
山田光學的YP-150I和YP-250I高亮度鹵素光源裝置，通過高照度鹵素燈光源、有效的熱管理以及人性化的操作設計，為半導體和液晶面板等行業的高精度表面缺陷檢測提供了專業的照明解決方案。YP-150I側重于小范圍超精密檢測，而YP-250I則擴展了照明面積并提供了更靈活的散熱選項，兩者共同滿足了不同場景下對穩定、清晰照明環境的需求。該系列裝置的存在，體現了專用照明設備在現代化精密制造質量控制環節中的重要性。
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